发明授权
CN119717765B
工业控制系统时序异常检测方法、电子设备及存储介质
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基本信息:
专利标题:
工业控制系统时序异常检测方法、电子设备及存储介质
申请号:
CN202411868614.1
申请日:
2024-12-18
公布(公告)号:
CN119717765B
公布(公告)日:
2025-09-26
申请人:
武汉理工大学
申请人地址:
湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
专利权人:
武汉理工大学
当前专利权人:
武汉理工大学
当前专利权人地址:
湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
发明人:
田璟
,  
张学敏
,  
向剑文
,  
周俊伟
,  
郝蕊
,  
郑倩荣
代理机构:
武汉开元知识产权代理有限公司
代理人:
刘懋然
主分类号:
G05B23/02
IPC分类号:
G05B23/02
摘要:
本发明提供了一种工业控制系统时序异常检测方法,包括以下步骤:构建时间序列,时间序列包括T个时刻的过程数据和时刻间隔内流经的字节数和数据包的数量;每个过程数据包括m个工业参数的值;通过滑动窗口对时间序列进行分片处理后,得到训练样本集;进行分片操作进行维度转换,得到分片间视角和分片内视角;将分片间视角和分片内视角依次经过时间卷积网络、通道注意力机制和自注意力网络处理后得到分片间表示分片内表示;将分片间表示和分片内表示进行维度统一后,通过利用KL散度计算两种表示的差异值,当差异值大于或等于阈值,则判定为异常。使深度学习模型能够同时从网络域和物理域两方面进行建模,使模型更加准确。
公开/授权文献:
CN119717765A
工业控制系统时序异常检测方法、电子设备及存储介质
公开/授权日:2025-03-28
IPC结构图谱:
G
物理
G05
控制;调节
G05B
一般的控制或调节系统;这种系统的功能单元;用于这种系统或单元的监视或测试装置
G05B23/00
控制系统或其部件的检验或监视
G05B23/02
.电检验式监视